Fluorescence X Ray Spectromètre (XRF)

Le spectromètre de fluorescence X Ray (XRF) est une méthode rapide et non destructive de mesure des matériaux, qui est largement utilisée dans l'analyse élémentaire et l'analyse chimique, en particulier dans l'enquête et la recherche du métal et du verre.

Un XRF typique se compose d'un tube à rayons X et d'un système de détection. Le tube à rayons X produit un seul rayon X qui excite l'échantillon testé. Chaque élément d'un échantillon excité émet des rayons X secondaires, et les rayons X secondaires émis par différents éléments ont des propriétés d'énergie ou des propriétés de longueur d'onde spécifiques. En utilisant le principe de la fluorescence X, il est théoriquement possible de mesurer chaque élément du tableau périodique des éléments.